Prosegue all’Università di Udine fino a giovedì 27 marzo, presso i palazzi Antonini e Caiselli dell’ateneo, la 27^a edizione della Conferenza internazionale per le strutture microelettronica, sponsorizzato dalla IEEE Electron Devices Society. L’assise internazionale raccoglie con cadenza annuale studiosi e ricercatori da Stati Uniti, Giappone ed Europa attivi nel settore della misura di componenti elettronici d’avanguardia fabbricati con le moderne tecnologie dei semiconduttori. Dopo la sessione tutoriale di ieri, rivolta ai giovani ricercatori e agli studenti di dottorato di ricerca, nelle successive giornate interverranno delegati di università, centri di ricerca e aziende che presenteranno i risultati più recenti delle ricerche.

La conferenza vede la presenza di numerose aziende (Agilent, Keithley-Tektronix, Accretech, TEL, JEM) che presenteranno alcuni dei loro prodotti di punta per l’esecuzione di misure elettroniche, tra cui stazioni di test e sonde ad alte prestazioni. “Tra i temi affrontati – spiega Luca Selmi, docente di elettronica dell’Università di Udine e coordinatore dell’iniziativa – vi saranno le tecniche per misurare e garantire l’uniformità delle caratteristiche dei componenti elettronici, senza le quali non sarebbe possibile ottenere circuiti funzionanti e durevoli, nonché la determinazione delle prestazioni di componenti elettronici per le comunicazioni ad alta frequenza”.

I lavori riguarderanno inoltre la caratterizzazione sperimentale di dispositivi miniaturizzati su scala nanometrica, le tecniche per valutare l’affidabilità dei dischi a stato solido, le prestazioni delle nuove tecnologie elettroniche e i metodi per confrontarle con quelle esistenti e capirne i margini di competitività”. La migliore presentazione e relazione scientifica sarà premiata da un riconoscimento formale e da un volume specialistico offerto dalla casa editrice scientifica internazionale Springer.